簡要描述:安東帕作為高性能分析儀器的開發(fā)商和制造商,它將其物理和工程專業(yè)技術(shù)與當(dāng)代的軟件創(chuàng)意相結(jié)合,研發(fā)出直觀又輕松易用的Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀。該分析儀通過光散射技術(shù)和巧妙簡易的軟件測量顆粒尺寸,Zeta電位、分子量和透光率。讓您對(duì)顆粒體系有一個(gè)快速而準(zhǔn)確的認(rèn)識(shí),展示這些顆粒體系如何隨著時(shí)間、pH值、溫度和濃度變化,從而為您提供優(yōu)化工具。
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奧地利Anton Paar公司Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀的主要功能和優(yōu)勢(shì):
1) Litesizer 500納米粒度及Zeta電位分析儀采用40mW 658nm高能半導(dǎo)體激光器,結(jié)合超高靈敏的光路設(shè)計(jì)和APD檢測器,將粒度測試和Zeta電位測試的靈敏度和準(zhǔn)確度提高到*的高度;
2) 粒度測試采用三個(gè)角度(15º, 90º, 175º) ,結(jié)合非侵入式背散射技術(shù),同時(shí)符合ISO13321和ISO22412標(biāo)準(zhǔn),具有極寬的適用性;
3) Zeta電位測試采用cmPALS專有技術(shù),相比傳統(tǒng)的PALS技術(shù),可在更低電壓下測試,縮短了測量時(shí)間,同時(shí)大大提高了重復(fù)性和準(zhǔn)確度;
4) 優(yōu)化的Zeta 電位樣品池,具有*的 Ω 形毛細(xì)管。這種形狀意味著電泳光散射 (ELS) 測量可不受測量位置影響,在測試通道內(nèi)形成均勻電場,保證結(jié)果的穩(wěn)定性和可重復(fù)性;
5) 實(shí)時(shí)測定透光率。儀器根據(jù)透光率自動(dòng)設(shè)置測試參數(shù),比如聚焦位置、檢測角度、濾光強(qiáng)度以及測試時(shí)間;
6) 所有光學(xué)器件放置在內(nèi)置保護(hù)殼中,降低振動(dòng)帶來的影響,確保測量不受灰塵或溫度波動(dòng)影響;
7) 基于WIN 10平臺(tái)開發(fā)的軟件,簡明易用,所有內(nèi)容都集中在一個(gè)頁面上,輸入?yún)?shù)、測量和分析集中在一個(gè)頁面,只需輕觸一鍵即可完成測試;
8) 可測試分子量,第二維利系數(shù)A2。
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